Using HATS2 ? (Highly Accelerated Thermal Shock)2  Testing for Assembly Reflow Simulation, Accelerated Reliability and Robustness of Automotive PCB’s

使?HATS2 ? ( ?加速熱沖擊II代）對PCB進(jìn)?回流焊、加速可靠性及穩(wěn)健性測試

該設(shè)備的創(chuàng)始人為Bob Neves先生，其在電子電路檢測行業(yè)資歷深厚。

Bob Neves 是 Microtek 實(shí)驗(yàn)室的創(chuàng)始人兼董事長/首席運(yùn)營官，該實(shí)驗(yàn)室是一家第三方測試機(jī)構(gòu)，在中國江蘇和美國加利福尼亞設(shè)有公司。他曾擔(dān)任 IRTS 公司總裁，該公司是初代 HATS 測試機(jī)的制造商。

Neves先生曾擔(dān)任國際電子工業(yè)聯(lián)接協(xié)會（IPC）董事會主席。他曾入選 IPC名人堂-IPC 的終身最高榮譽(yù)。他曾榮獲 IPC 主席獎和 Dieter Bergman IPC 研究員獎，以表彰他長期以來為電子行業(yè)所做的貢獻(xiàn)。Neves先生曾擔(dān)任 IPC TAEC 主席、印制電路板總委員會主席、HDI 總委員會主席、印制電路板測試方法工作組主席、實(shí)驗(yàn)室資格（IPC-QL-653）委員會主席，并在其職業(yè)生涯中參加了50多個 IPC 技術(shù)委員會。他曾擔(dān)任 IEC TC91 第 10 工作組印刷布線測試方法主席，還是 IEC T91 印刷電路板和覆銅板工作組成員。他曾擔(dān)任加州電路板協(xié)會主席。Neves先生發(fā)表過數(shù)十篇關(guān)于可靠性、測試、測試方法和故障分析的文章和技術(shù)論文，是庫姆斯《印制電路手冊》第六版中 PCB 可接受性部分的作者。Neves先生教授過許多關(guān)于電子系統(tǒng)測試、可靠性和故障分析基礎(chǔ)的課程。

Laya Chen女士也是建立Microtek常州實(shí)驗(yàn)室的團(tuán)隊(duì)成員之一，該實(shí)驗(yàn)室是一家第三方測試機(jī)構(gòu)，在中國江蘇設(shè)有公司。她曾擔(dān)任 Microtek 常州實(shí)驗(yàn)室董事長助理兼培訓(xùn)經(jīng)理。她是經(jīng)認(rèn)證的 IPC-A-600 主講師/培訓(xùn)師，講授過數(shù)十門有關(guān)印刷電路板 (PCB) 質(zhì)量和驗(yàn)收的課程。Laya曾擔(dān)任設(shè)備、貿(mào)易和技術(shù)公司 Greater Asa Pacific 的總經(jīng)理，現(xiàn)任 HATS2? 測試機(jī)制造商 Reliability Assessment Solutions 的總經(jīng)理。Laya 精通英語和漢語（各種方言），并利用這一技能和她的技術(shù)知識翻譯了大量不同語言的技術(shù)文章、演示文稿和 IPC 文件。她曾擔(dān)任 IPC 7-31a 委員會主席，并參加過許多 IPC 技術(shù)委員會，獲得過各種委員會服務(wù)獎。

用于評估過孔結(jié)構(gòu)的可靠性、魯棒性和組件附著過程生存性的測試設(shè)備

設(shè)備可測試IPC-2221B D樣品、HATS2?單孔樣品*、基板&定制樣品；每塊試樣最多7個測試通道

每箱可測試72塊IPC D或36塊 HATS2?單孔*/定制樣品

按照IPC-TM-650方法2.6.7.2C進(jìn)行空氣法高低溫循環(huán)試驗(yàn)

在-65°C到265°C測試溫度范圍內(nèi)進(jìn)行快速高低溫循環(huán)或回流焊模擬測試；

熱沖擊循環(huán)時間減少了60%到80%（每周大約可測試1000 個循環(huán)）

按照IPC-TM-650 方法 2.6.27B進(jìn)行對流回流焊模擬試驗(yàn)--帶實(shí)時電阻監(jiān)測功能

系統(tǒng)自帶的曲線模擬器可自動模擬任何回流焊曲線

在-65°C至265°C的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行溫度循環(huán)和回流焊模擬的穩(wěn)健性測試（不限次數(shù)）

在全球提供HATS? & HATS2?測試服務(wù)

提供詳盡的測試報(bào)告包括箱線圖

美國專利號10,379,153。 德國專利號10 2019 006 553.0。 日本專利號7,291,045。中國專利號ZL 2019 2 2142627.1。全球其他專利號更新中。